芯片测试原理（基础篇）
标签： 可用性测试
芯片测试原理
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芯片测试原理
芯片测试就是用相关电子仪器（如万用表、示波器、直流电源、ATE等）将芯片所具备的电路功能、电气特性参数测试出来。测试项目一般有：直流参数、交流测试、功能测试等。
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清华大学芯片测试讲义，主要内容包括： 1.可测试性测试和设计的基础知识 2.组合测试生成 3.故障模拟 4.顺序测试生成 5.内存测试 6.可测性测量 7.可测试性设计 8.边界扫描 9....
对芯片测试进行了介绍，包括CP和FT。
芯片测试是指在芯片制造完成后，通过一系列的物理和电气测试，以确保芯片的功能和性能符合设计规格，同时发现并排除任何可能存在的缺陷或问题。芯片测试是保证芯片质量和可靠性的重要环节，包括功能测试、性能测试、...
根据电子系统故障检测中的”十倍法则“：若芯片测试未发现芯片设计制造的相关故障问题，那么在电路板(PCB)级别发现故障的成本则会升至芯片级别的十倍。以此类推，成本也会以指数式增长。半导体测试基本工作机制为：
1. Screen Interface / Command Language 2. Graphical Programming Language ( Testview & Labview ) 3. Mixed Signal IC Test 4. Scan Test 5. IDDQ Test (Not Support by CIC)
在芯片设计到制作的过程中 不可避免会出现缺陷 芯片测试就是为了发现产生缺陷的芯片 如果不加入测试环节 将有缺陷的芯片卖给顾客 受到的损失是测试的花费的数倍。这种测试在芯片的价值链中 按照不同阶段又分为CP...
集成电路芯片测试技术教学课件19CTA8280测试机.pdf集成电路芯片测试技术教学课件19CTA8280测试机.pdf集成电路芯片测试技术教学课件19CTA8280测试机.pdf集成电路芯片测试技术教学课件19CTA8280测试机.pdf集成电路芯片...
芯片测试：蛮力测试和分治策略都有写到，算法按设计与分析课的笔记，博主自己写的，仅仅参考了讲义的伪代码，若有错误请指出，谢谢。 重要的假设:好芯片至少比坏芯片多一片。 测试结果：奇数个芯片√ 偶数个芯片...
设计制作一个集成电路芯片测试仪，能对常用的74系列逻辑芯片进行逻辑功能测试，以确定芯片的好坏和型号。 二、要求 1.基本要求 （1）通过键盘输入型号，可以对74系列的00/02/04/08/10/11/20/21/27/30十种组合逻辑...
测试!芯片测试的意义
Mosaid逻辑芯片测试设计与实现，陈燕军，，本文提出了一种利用存储器测量机台Mosaid来测量逻辑芯片的工程分析的方法。通过这种方法，既可以跟测试厂做correlation分析，还可以配�
芯片测试的术语及解释
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芯片制造工艺介绍
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芯片测试报告范文.doc编程资料
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芯片测试的意义 •芯片的测试分两次。在芯片制造完成后必须对圆片上的芯片（小片，Die）进行测试。测试后进行切割。测试合格的芯片才能进行封装。封装完成后的芯片还要进行第二次测试 •当已经封装的芯片被测出...
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芯片测试中的cp、ft、wat
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