”晶圆测试“ 的搜索结果

     第1 节 晶圆、晶片和封装 第 3 节 半导体技术 第 5 节 测试系统的种类 第 7 节 探针卡(ProbeCard) 第 2 节 自动测试设备 第 4 节 数字和模拟电路 第 6 节 测试负载板(LoadBoard)... 第 2 章半导体测试基础 更多....

     Wafer即晶圆,是半导体组件“晶片”或“芯片”的基材,从沙子里面高温拉伸生长出来的高纯度硅晶体柱(Crystal Ingot)上切下来的圆形薄片称为“晶圆”。采用精密“光罩”通过感光制程得到所需的“光阻”,再对硅材进行...

     2. 晶圆测试数据:包括对晶圆进行测试时得到的各种电学、光学和物理性能的测量数据。这些数据可以用于分析晶圆的性能和质量,并判断是否符合质量标准。 3. 晶圆质量数据:包括晶圆的缺陷和瑕疵数据。这些数据可以...

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